Sensore di temperatura per strumento per wafer

Wed, 29 Jul 2026 10:16:11 +0800

Come evitare che i nostri strumenti esplodano
Siamo realistici: in questo settore, basta un piccolo guasto per rovinare l’intero lotto di silicio prodotto. È un incubo che nessuno vuole vivere. Proprio per questi motivi, non procediamo con dei controlli casuali: non ci accontentiamo di controllare ogni decimo componente, sperando nel meglio.

Ogni singolo componente che lascia il nostro stabilimento viene sottoposto a test di resistenza elettrica al 100%. Senza eccezioni.

La logica dei “test di stress”
Ecco come procediamo: applichiamo ai componenti una tensione molto superiore a quella di funzionamento normale. Perché? Per individuare eventuali difetti nascosti. Se c’è una bollicina microscopica nella ceramica o una crepa nel rivestimento, che non è visibile a occhio nudo, il test di resistenza elettrica riuscirà comunque a individuarla. Cerchiamo infatti quegli aumenti improvvisi della corrente di perdita; se si verifica, il componente è danneggiato. È l’unico modo per essere sicuri che l’isolamento funzioni correttamente una volta che il componente viene integrato nello strumento.

```Python on Infrared Quartz Heating Systems

Sensore di temperatura per strumento per wafer